華測研發(fā)高低溫冷熱臺測試儀器
華測研發(fā)高低溫冷熱臺測試儀器
高低溫冷熱臺，解決了高低溫環(huán)境下的電學測量精度。
Huace650T高低溫冷熱臺在借鑒***測試方法的基礎上，由華測儀器多位工程師多年開發(fā)，其具有更多的測試功能，冷熱臺可配合阻抗分析儀、高阻計、電化學工作 站、數(shù)字原表設備進行功能材料電學的相關測試，采用直接聯(lián)接測試儀表以減少測試導線的影響，同時電加熱采用直流電加熱方式，減少電網(wǎng)諧波對測量儀表的干擾。國產(chǎn)****，同時測試功能上也增加了電阻測試、TSDC等測量功能。它能夠在不同測量條件和測量模式下進行連續(xù)和高速的測量，僅用一臺Huace450P高低溫冷熱臺就能取代功能材料測試眾多儀器的高低溫電學的測量功能！
Huace650T高低溫冷熱臺也可搭配顯微鏡/光譜儀使用。其可在 -185℃ ~ 600℃ 范圍內(nèi)控溫，同時允許進行電學測試、光學觀察和樣品氣體環(huán)境控制。探針臺上蓋與底殼構成一個氣密腔，可往內(nèi)充入氮氣等保護氣體，來防止樣品在負溫下結霜，或高溫下氧化。也可搭配阻抗分析儀、高阻計、源表等進行相關電參數(shù)測量。使用時還可對樣品氣氛進行控制。這樣既可以保證，即使在很低溫度下，腔體也不產(chǎn)生結霜影響實驗，又可以防止樣品發(fā)生氧化。此款溫控探針臺通過杠桿式支架（可根據(jù)用戶測量要求定制用電），相比傳統(tǒng)的直針探針，這種設計不僅點針更準確，而且點針力度更大，和樣品的電接觸性更好。
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